• Wechselwirkung zwischen Elektronen und Festkörper
• Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops
• Funktionsweise der Bauteile
• Kontrastmechanismen
• Probenpräparation
• Energie- und wellenlängendispersive Mikroanalyse
• Orientierungsmessungen mittels Electron Channelling Pattern und Electron Back Scatter Diffraction
• 3D-Analyse mittels Stereoskopie
Einschreibeschlüssel: REM2020 (bis 15.05.2020 23:59) Anschließend ist eine Einschreibung nur noch durch den Dozenten möglich! Bei Bedarf bitte per Mail melden.
- DozentIn: Michael Marx