Methodik 9 - Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Grundlagen und Anwendungen der Rastersondenmikroskopie (SPM)

AFM und STM

Wechselwirkung von Sonde und Oberfläche/Kontaktmodelle

Messmodi in der SPM

Grundlagen der Mess- und Regeltechnik

spezielle Methoden der SPM an den Beispielen MFM, SKPFM, Nanoindentation

Vorlesungsform: Vortrag, Seminar, Gruppenarbeit, Laborpraktikum