Grundlagen und Anwendungen der Rastersondenmikroskopie (SPM)
AFM und STM
Wechselwirkung von Sonde und Oberfläche/Kontaktmodelle
Messmodi in der SPM
Grundlagen der Mess- und Regeltechnik
spezielle Methoden der SPM an den Beispielen MFM, SKPFM, Nanoindentation
Vorlesungsform: Vortrag, Seminar, Gruppenarbeit, Laborpraktikum
EInschreibeschlüssel: AFM2022 (Einschreibung durch den Teilnehmer möglich bis 15.05.2022 23:59)
- DozentIn: Florian Schäfer